TH2851系列同惠精密阻抗分析儀采用自動平衡電橋原理研制的新一代阻抗測試儀器，為國產(chǎn)阻抗測試儀器的新高度。改變了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測試更智能、更簡便。解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨(dú)測試的缺陷；中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單?？爝_(dá)2.5ms的測試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

TH2851系列同惠精密阻抗分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

l  測試頻率：10Hz-130MHz

l  基本阻抗精度：0.08%，典型值≤±0.045%

l  高精度：采用自動平衡電橋技術(shù)，四端對測試配置

l  高穩(wěn)定性和一致性

l  高速度：最快達(dá)2. 5ms的測試速度

l  高分辨：10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800

l  點(diǎn)測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測試方式

l  1601點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能

l  四參數(shù)測量

l  自動電平控制（ALC）功能

l  4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有14種分屏顯示方式

l  分析功能：等效電路分析、晶體振蕩器分析、壓電分析、曲線軌跡對比、介電常數(shù)分析（選件）、磁導(dǎo)率分析（選件）

l  強(qiáng)大的分選：LCR模式10檔分選

l  圖形掃描模式每條曲線單獨(dú)分選，頻率分段掃描并分選

l  高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4990A、 E4980A、E4980AL、HP4284A                                                

A.  高精度

寬帶自動調(diào)零型自動平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-40MΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的10%測量精度，其中最高精度達(dá)0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

B.  高穩(wěn)定性和高一致性

下圖是在速度5、測試頻率1MHz，測量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C.  高速度

D.  10.1寸大屏，四種測量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無遺

10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測量參數(shù)，四種測量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數(shù)

  E.  增強(qiáng)的列表掃描功能

可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F.  強(qiáng)大的分析圖形界面

最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

G.分段掃描功能

分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

如晶體諧振器需要測試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描功能可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測量，無需掃描不相關(guān)頻率。

H.強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能：

1. 讀取測量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對數(shù)值或者相對于參考點(diǎn)的相對值）

2. 查找曲線上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找）

3. 分析曲線測量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。

每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵值（坐標(biāo)系 X 軸對應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系 Y 軸對應(yīng)的數(shù)值）。

光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測量點(diǎn)：最大值、最小值

峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值

目標(biāo)值： 距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

I.強(qiáng)大的圖形分析功能

1） 曲線分選功能

可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。

2）等效電路分析測試

現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測量的阻抗曲線進(jìn)行對比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

3） 晶體振蕩器分析（壓電器件分析）

對晶體振蕩器進(jìn)行測量以及性能分析，測量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

同時(shí)，對于其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發(fā)生器、換能器（振子）、聲表面波器件、電聲器件等都可以測試如靜態(tài)電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機(jī)械耦合系數(shù)等參數(shù)。

4） 曲線軌跡對比

曲線軌跡對比用于對被測件進(jìn)行連續(xù)測量，所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用：

a) 針對多種不同被測件

對比不同測量條件下的曲線軌跡

設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測量值

b) 針對同一個(gè)被測件

對比同一個(gè)條件下測量的多次測量結(jié)果重復(fù)性

設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測量值。

J.介電常數(shù)分析（選件）

TH2851系列精密阻抗分析儀支持介質(zhì)材料介電常數(shù)、介質(zhì)損耗分析，需選購測試夾具及分析軟件。

1.配置

2.TH26077介質(zhì)材料測試夾具

TH26077電介質(zhì)材料測試夾具是設(shè)計(jì)在TH2851上進(jìn)行準(zhǔn)確的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測量的夾具。通過使用平行板方法測量固態(tài)材料的介電常數(shù)，從而消除離散電容。

3.介電常數(shù)分析軟件

該軟件為選件，開通后在TH2851界面直接選擇對應(yīng)的參數(shù)即可，分別可以單測、列表掃描、曲線掃描，下圖為曲線掃描界面。

K.磁導(dǎo)率分析

TH2851支持磁性材料磁導(dǎo)率測試，在主機(jī)的基礎(chǔ)上，需選配測試夾具及磁導(dǎo)率分析軟件，具體配置如下：

1.配置

2.測試夾具

3.測試原理

4.磁導(dǎo)率分析軟件

選擇開通磁導(dǎo)率分析軟件之后，儀器便可以在單測、列表掃描、曲線掃描中直接選擇磁導(dǎo)率參數(shù)，直接在界面顯示測試結(jié)果。

K.標(biāo)配附件

L.選配附件

產(chǎn)品應(yīng)用：

■ 無源元件：

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

■ 半導(dǎo)體元件：

LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

■ 其它元件：

印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評估

■ 介質(zhì)材料：

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

■ 磁性材料：

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估

■ 半導(dǎo)體材料：

半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

■ 液晶單元：

介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

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